ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্টে সাধারণত লো ভোল্টেজ সাইডে শর্ট সার্কিট করা হয়। কারণ, এই সাইডে শর্ট সার্কিট করলে ট্রান্সফরমারের ইন্ডাক্ট্যান্সের প্রভাব কম হয়। ফলে, ট্রান্সফরমারের কপার লস সহজেই নির্ণয় করা যায়।
ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্টের সময়, লো ভোল্টেজ সাইডে একটি রেজিস্টর ব্যবহার করে শর্ট সার্কিট করা হয়। এই রেজিস্টরের মান ট্রান্সফরমারের রেটেড কারেন্টের চেয়ে কম হয়। ফলে, ট্রান্সফরমারের রেটেড কারেন্ট প্রবাহিত হয় এবং কপার লস নির্ণয় করা যায়।
হাই ভোল্টেজ সাইডে শর্ট সার্কিট করলে, ট্রান্সফরমারের ইন্ডাক্ট্যান্সের প্রভাব বেশি হয়। ফলে, ট্রান্সফরমারের কপার লস নির্ণয় করা কঠিন হয়। এছাড়াও, হাই ভোল্টেজ সাইডে শর্ট সার্কিট করলে, ট্রান্সফরমারের নিরাপত্তা বিঘ্নিত হতে পারে।
ট্রান্সফরমার শর্ট সার্কিট টেস্টের মাধ্যমে নিম্নলিখিত পরামিতিগুলি নির্ণয় করা যায়:
-
ট্রান্সফরমারের কপার লস
-
ট্রান্সফরমারের সমতুল্য ইম্পিড্যান্স
-
ট্রান্সফরমারের ইফিসিয়েন্সি
-
ট্রান্সফরমারের ভোল্টেজ রেগুলেশন
এই পরামিতিগুলি ট্রান্সফরমারের অবস্থা এবং কার্যক্ষমতা নির্ণয়ের জন্য গুরুত্বপূর্ণ।
